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金相顯微鏡跟掃描電鏡的區別 日期:2019.05.24
由於此類樣品一般表麵是凹凸不平的,所以不適合用普通金相顯微鏡觀看,以前這部分樣品一般也是電鏡的工作,觀察一般5000x以下,LEXT拍攝此類樣品的照片感覺也都很不錯的,完全可以代替電鏡的工作。
三、非金屬材料
玻璃鋼 
碳碳複合材料
纖維
MSP納米複合材料
天然石磨顆粒 
釹鐵硼顆粒
陶瓷斷口1
陶瓷斷口2
說明:可以看出LEXT非常適合一些非金屬試樣。
一、其他應用
1、   隱身材料的底表麵積測量
LEXT除了可以測量麵積外,還可以測量表麵積。在隱身材料中,實現隱身的一種途徑就是在材料表麵通過工藝處理實現很多小孔,小孔越多越深隱身效果越好。用LEXT可以測量出隱身材料的表麵積,表麵積越大說明小孔越多越深,從而可以定量的知道哪組工藝處理的隱身材料隱身效果更好。
2、   表麵噴塗粗糙度測量
通過測量不同工藝處理過的材料表麵粗糙度,進而間接的評判各種噴塗工藝效果。
3、   發動機葉片氣孔檢查
發動機葉片含有氣孔,取其橫截麵放入顯微鏡觀察,可以看到氣孔和表麵的汙物(汙物是不能避免的),在普通光學顯微鏡下,氣孔和汙物都是黑顏色的,無法分辨,由於氣孔是凹下的而汙物是凸出的,所以LEXT可以很容易的進行判斷,進而實現樣品孔隙率的計算。
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